PSI-4系列為第四代透過法粒度測定儀，是測定金屬、非金屬及其化合物粉末的比表面積和粒度的裝置。可廣泛應(yīng)用于粉末冶金、精細(xì)化工、硅酸鹽工業(yè)、食品、制藥、核工業(yè)、以及表面技術(shù)的各種粉末粒度和比表面積的測定。本儀器結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，儀器有快速計算板或測高儀，不需要復(fù)雜計算，測定一次只需3-5分鐘。
    本儀器運(yùn)用的測定方法為"張瑞福法"，該方法是測定金屬及其化合物粉末比表面積和粒度的國家標(biāo)準(zhǔn)：GB11107-89和國際標(biāo)準(zhǔn)：ISO10070-91，榮獲國家發(fā)明獎。國標(biāo)GB/T4062-98三氧化二銻平均粒度的測定采用本儀器進(jìn)行檢測。本測定儀微米級測試結(jié)果與費舍爾粒度儀完全一致，納米級透過法粒度測量是世界首創(chuàng)。